ISBN/价格: | ¥2.95(上) |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 310000 |
题名责任者项: | 计量与测试专利文摘/.上海科学技术情报研究所编 |
出版发行项: | 上海:,上海科学技术文献出版社:,1984 |
载体形态项: | 281页:;+25cm |
题名主题: | 计量-专利 文摘 |
题名主题: | 专利-计量 文摘 |
题名主题: | 测试技术-专利 文摘 |
题名主题: | 专利-测试技术 文摘 |
中图分类: | Z89:TB9 |
团体名称等同: | 上海科学技术情报研究所 编 |
记录来源: | CN 上海图书馆 |
记录来源: | CN yd zbl |