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《计量与测试专利文摘.下》

计量与测试专利文摘.下

ISBN/价格:¥2.32(下)
作品语种:chi
出版国别:CN 310000
题名责任者项:计量与测试专利文摘/.上海科学技术情报研究所编
出版发行项:上海:,上海科学技术文献出版社:,1984
载体形态项:216:;+26cm
题名主题:计量-专利 文摘
题名主题:专利-计量 文摘
题名主题:测试技术-专利 文摘
题名主题:专利-测试技术 文摘
中图分类:Z89:TB9
团体名称等同:上海科学技术情报研究所 编
记录来源:CN 上海图书馆
记录来源:CN yd zbl
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