书目信息 机读格式(MARC)
LSI/VLSI Testability Design
| ISBN： | 0-07-065341-0 |
|---|---|
| 语种代码： | eng |
| 个人名称： | Tsui, Frank F. |
| 题名： | LSI/VLSI Testability Design .Edited by Frank F. Tsui |
| 出版发行项： | ：Berkeley ，Osborne McGraw-Hill c．1987 |
| 载体形态： | p．702 23cm． |
| 一般附注： | 大规模集成电路（超大规模集成电路）易测性设计 |
| ISBN： | 0-07-065341-0 |
|---|---|
| 语种代码： | eng |
| 个人名称： | Tsui, Frank F. |
| 题名： | LSI/VLSI Testability Design .Edited by Frank F. Tsui |
| 出版发行项： | ：Berkeley ，Osborne McGraw-Hill c．1987 |
| 载体形态： | p．702 23cm． |
| 一般附注： | 大规模集成电路（超大规模集成电路）易测性设计 |