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数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计
| ISBN/价格： | 7-5083-1904-4:CNY48.00 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计/.(美)阿尔佛雷德著 |
| 版本项： | 影印版 |
| 出版发行项： | 北京:,中国电力出版社:,2004 |
| 载体形态项： | 348页:;+图表:;+23cm |
| 丛编项： | 原版风暴系列 |
| 题名主题： | 数字集成电路 测试 设计 英文 |
| 题名主题： | 微型计算机 测试 设计 英文 |
| 中图分类： | TN431.2 |
| 个人名称等同： | 阿尔佛雷德 著 |
| 记录来源： | CN AHRL 20041124 |
| 电子图书： | http://211.83.192.212/bookhtm/rcount.asp?ssnum=11195609 |