书目信息 机读格式(MARC)
KL电子器件故障分析手册
| ISBN/价格： | 7-03-014505-4:CNY69.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | KL电子器件故障分析手册/.[美]P. L. 马丁主编/.张伦译 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2005.4 |
| 载体形态项： | 12,584页:;+照片，图:;+25cm |
| 提要文摘： | 本书主要从技术和工艺的更深入角度，对电子设备故障诊断分析进行了探讨。全书共有２０章，分成电子设备故障分析的简介、故障分析的技巧以及如何在一些特殊技术工艺中进行故障分析等３大部分，包括故障产生的原因，电子系统的可靠性测试，光学显微镜技术、红外线测温、电子设备的声学微图像分析。全书还对化学特性、电气特性的故障分析，各种处理加工工艺中会出现的故障也作了详细地介绍。书中还结合了大量的图形图表进行解释，论述合理，结构新颖。 |
| 并列题名： | Electronic failure analysis handbook eng |
| 题名主题： | 电子设备 故障诊断 技术手册 |
| 中图分类： | TN05 |
| 个人名称等同： | 马丁 P. L. 主编 |
| 个人名称次要： | 张伦 译 |
| 记录来源： | CN K6991547 20050429 |