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系统芯片(SoC)验证方法与技术
| ISBN/价格： | 7-121-00589-1:CNY29.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 系统芯片(SoC)验证方法与技术/.(美)Prakash Rashinkar, (美)Peter Paterson,(美)Leena Singh著/.孙海平，丁健译 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2005.1 |
| 载体形态项： | 12,263页:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书从最高层次的系统级验证直至最终的物理实现和签付，详细介绍了各种设计抽象级别和各阶段所涉及到的各种验证方法及工具。主要内容包括各种不同类型的仿真、软件/硬件协同验证、数字/模拟混合验证、网表静态验证、物理验证、测试平台迁移、形式模型与等价性检查、代码静态检查与代码覆盖状况分析、定向随机测试等验证技术。 |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 设计 |
| 中图分类： | TN402 |
| 个人名称等同： | Rashinkar Prakash 著 |
| 个人名称等同： | Peter Paterson 著 |
| 个人名称次要： | 孙海平 译 |
| 记录来源： | CN RTZL 20050323 |