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《半导体器件失效分析》

半导体器件失效分析

ISBN/价格:7-80034-363-4:¥8.10
作品语种:chi
出版国别:CN 110000
题名责任者项:半导体器件失效分析/.邓永孝著
出版发行项:北京:,宇航出版社:,1991.4
载体形态项:297页:;+20厘米
题名主题:半导体器件-失效分析
题名主题:失效分析-半导体器件
中图分类:TN306
个人名称等同:邓永孝 著
记录来源:CN NLC 20051008
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