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半导体的检测与分析
| ISBN/价格： | ￥3.70 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体的检测与分析/.中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,1984 |
| 载体形态项： | 636页:;+19cm |
| 丛编项： | 实验物理学丛书 |
| 题名主题： | 半导体材料 检测 分析 |
| 中图分类： | TN304.07 |
| 团体名称等同： | 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室 著 |
| 记录来源： | CN 上海图书馆 |
| 记录来源： | CN NLC 20050930 |