| ISBN/价格: | ¥1.60(1) |
|---|---|
| 作品语种: | chi jpn |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 痕量金属的光度测定概况/.(美)桑德尔(E.B. Sandell),(日)大西宽著/.容庆新等译 |
| 出版发行项: | 北京:,地质出版社:,1982-1985 |
| 载体形态项: | 279页:;+21cm |
| 一般附注: | 书名原文:Photometric Determination of Traces of Metals General Aspects |
| 并列题名: | Photometric Determination of Traces of Metals General Aspects eng |
| 题名主题: | 痕量金属-光度测量 |
| 题名主题: | 痕量金属-比色法 |
| 题名主题: | 比色法-痕量金属 |
| 中图分类: | TG115.3 |
| 个人名称等同: | 桑德尔 E.B. 著 |
| 个人名称等同: | Sandell E.B. 著 |
| 个人名称等同: | 大西宽 著 |
| 个人名称次要: | 容庆新 译 |
| 记录来源: | CN 上海图书馆 |
| 记录来源: | CN NLC 20051027 |