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测试
ISBN/价格：
￥0.95
作品语种：
chi
出版国别：
CN 110000
题名责任者项：
测试/.
《半导体器件制造技术丛书》编写组编
出版发行项：
北京:,国防工业出版社:,1972
载体形态项：
350页:;+32开
丛编项：
半导体器件制造技术丛书11
中图分类：
TN3
团体名称等同：
《半导体器件制造技术丛书》编写组 编
记录来源：
CN CTBU-C XY 20051025
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