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VLSI测试方法学和可测性设计
| ISBN/价格： | 7-121-00379-1:CNY29.80 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | VLSI测试方法学和可测性设计/.雷绍充，邵志标，梁峰著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2005 |
| 载体形态项： | 286页:;+25cm |
| 题名主题： | 超大规模集成电路 测试技术 |
| 题名主题： | 超大规模集成电路 测试 设计 |
| 中图分类： | TN47 |
| 个人名称等同： | 雷绍充 著 |
| 个人名称等同： | 邵志标 著 |
| 个人名称等同： | 梁峰 著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20051009 |