| ISBN/价格： | 7-121-01490-4:CNY58.00 |
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| 作品语种： | chi eng |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 超大规模集成电路测试/.(美)布什内尔著/.蒋安平译 |
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| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2005.8 |
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| 载体形态项： | 511:;+16开 |
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| 丛编项： | 国外电子与通信教材系列 |
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| 提要文摘： | VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类电路的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试。 |
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| 并列题名： | Essentials of Electronic Testing for Digital,Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits |
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| 题名主题： | 超大规模集成电路 测试 教材 |
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| 中图分类： | TN470.7 |
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| 个人名称等同： | 布什内尔 著 |
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| 个人名称次要： | 蒋安平 译 |
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| 记录来源： | CN CDSY 20051209 |
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