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数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计
| ISBN/价格： | 7-111-18706-7:RMB38.00（含光盘） |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计/.（美）克拉茨著/.何虎译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2006.5 |
| 载体形态项： | 282页:;+16开:;+光盘1张 |
| 载体形态附注： | 光盘号:7723 |
| 提要文摘： | 本书论述集成与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。 |
| 题名主题： | 数字集成电路 测试设计 |
| 中图分类： | TN431.2 |
| 个人名称等同： | 克拉茨 著 |
| 个人名称次要： | 何虎 译 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20060729 |