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极限配合与技术测量
| ISBN/价格： | 978-7-121-04083-2:CNY17.50 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 极限配合与技术测量/.张磊光，杨慧芳主编 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2007.8 |
| 载体形态项： | 192页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 职业教育实用教材 |
| 提要文摘： | 全书共六章，主要内容包括：尺寸极限与配合、技术测量基础、形状和位置公差、表面粗糙度、技术测量等等，并配有实验。 |
| 题名主题： | 公差 配合 高等教育 教材 |
| 题名主题： | 技术测量 高等教育 教材 |
| 题名主题： | 公差 |
| 题名主题： | 配合 |
| 题名主题： | 技术测量 |
| 中图分类： | TG801 |
| 个人名称等同： | 张磊光 主编 |
| 个人名称等同： | 杨慧芳 主编 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20081013 |