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半导体材料与器件表征技术
| ISBN/价格： | 978-7-5611-4138-0:CNY99.80 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 210000 |
| 题名责任者项： | 半导体材料与器件表征技术/.(美) Dieter K. Schroder著/.大连理工大学半导体研究室译 |
| 出版发行项： | 大连:,大连理工大学出版社:,2008 |
| 载体形态项： | 20, 542页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书共10章，包括：电阻率，载流子和掺杂浓度，接触电阻、肖特基势垒及电迁移，串联电阻、沟道长度与宽度、阈值电压及热载流子等内容。 |
| 题名主题： | 半导体材料 研究 |
| 题名主题： | 半导体器件 研究 |
| 题名主题： | 半导体材料 |
| 题名主题： | 半导体器件 |
| 中图分类： | TN304 |
| 中图分类： | TN303 |
| 个人名称等同： | 施罗德 著 |
| 记录来源： | CN RULIN 20090525 |