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纳米材料测试技术
| ISBN/价格： | 978-7-5628-2221-9:CNY28.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 310000 |
| 题名责任者项： | 纳米材料测试技术/.蓝闽波等编 |
| 出版发行项： | 上海:,华东理工大学出版社:,2009.4 |
| 载体形态项： | 227页:;+图:;+23cm |
| 一般附注： | “十一五”国家重点图书 上海紧缺人才培训工程 |
| 提要文摘： | 全书共分10章。主要介绍了纳米材料常用测试技术的原理、方法、仪器、主要包括理化性能测试的通用仪器, 如X射线衍射仪、电子显微镜及粒度分析仪、比表面分析仪、扫描探针显微镜 (SPM) 和力学测试仪等。 |
| 题名主题： | 纳米材料 测试技术 |
| 中图分类： | TB383 |
| 个人名称等同： | 蓝闽波 编 |
| 记录来源： | CN 重大书店 20100113 |