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系统芯片SoC的设计与测试
| ISBN/价格： | 978-7-03-025672-0:CNY60.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 系统芯片SoC的设计与测试/.潘中良著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2009.10 |
| 载体形态项： | 323页:;+图:;+23cm |
| 提要文摘： | 本书详细介绍了系统芯片SoC的设计与测试的关键技术和主要方法。全书共15章，内容包括：系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、芯核设计、软硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片中模拟/混合信号的设计、系统芯片的低功耗设计、信号完整性、系统芯片的验证、系统芯片的可测性设计、测试调度与测试结构的优化设计、芯核的测试、系统芯片的物理设计、片上网络等。 |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 设计 |
| 题名主题： | 集成电路 |
| 题名主题： | 芯片 |
| 中图分类： | TN402 |
| 个人名称等同： | 潘中良 著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20100412 |