书目信息 机读格式(MARC)
半导体材料测试与分析
| ISBN/价格： | 978-7-03-027036-8:CNY78.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体材料测试与分析/.杨德仁等著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2010.04 |
| 载体形态项： | 11,381页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 半导体科学与技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容：包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。 |
| 题名主题： | 半导体材料 测试 |
| 题名主题： | 半导体材料 |
| 中图分类： | TN304.07 |
| 个人名称等同： | 杨德仁 著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20100909 |