书目信息 机读格式(MARC)
集成电路系统设计、验证与测试
| ISBN/价格： | 978-7-03-021490-4:CNY62.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 集成电路系统设计、验证与测试/.(美)Louis Scheffer等著/.陈力颖,王猛译 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2008.6 |
| 载体形态项： | 475页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 集成电路EDA技术 |
| 提要文摘： | 内容涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计，设计与验证语言，数字仿真，并详细分析了基于声明的验证，DFT，而且专门探讨了ATPG，以及模拟和混合信号测试等。 |
| 题名主题： | 集成电路 电路设计 |
| 题名主题： | 集成电路 |
| 题名主题： | 电路设计 |
| 中图分类： | TN402 |
| 个人名称等同： | Louis Scheffer (美) 著 |
| 个人名称次要： | 王猛 译 |
| 个人名称次要： | 陈力颖 译 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20110217 |