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半导体异质结构与纳米结构表征
| ISBN/价格： | 978-7-03-026969-0:CNY135.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体异质结构与纳米结构表征/.(英)兰伯蒂著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2010.03 |
| 载体形态项： | 486页:;+图:;+24cm |
| 一般附注： | 科爱传播.化学化工纳米科学进展系列 |
| 提要文摘： | 本书介绍了异质和纳米结构半导体的特性，同时讨论了最新的独特的创新的纳米工艺。全面描述了对异质/纳米结构性质进行表征的手段和方法。包括高分辨率X射线衍射技术、拉曼谱技术、X射线吸收精细结构等内容。 |
| 并列题名： | Characterization of Semiconductor Heterostructures and Nanostructures eng |
| 题名主题： | 半导体材料 异质结 英文 |
| 题名主题： | 半导体材料 |
| 题名主题： | 异质结 |
| 中图分类： | TN304 |
| 个人名称等同： | 兰伯蒂 著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20110215 |