书目信息 机读格式(MARC)
全面的功能验证:完整的工业流程
| ISBN/价格： | 978-7-111-29641-6:CNY98.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 全面的功能验证/.(美)Bruce Wile，(美)John C. Goss，(美)Wolfgang Roesner著/.沈海华，乐翔译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2010.3 |
| 载体形态项： | 21,487页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 国际信息工程先进技术译丛 |
| 提要文摘： | 本书介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念，以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元，关注了基于模拟的验证方法和形式验证方法。研究了回归测试和“逃逸”错误分析等。 |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 设计 |
| 题名主题： | 集成电路 |
| 题名主题： | 芯片 |
| 中图分类： | TN402 |
| 个人名称等同： | 威立 (美) (Wile, Bruce) 著 |
| 个人名称等同： | 戈斯 (美) (Goss, John C.) 著 |
| 个人名称等同： | 勒斯纳 (Roesner, Wolfgang) (美) 著 |
| 个人名称次要： | 沈海华 译 |
| 个人名称次要： | 乐翔 译 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20110328 |