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数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度
| ISBN/价格： | 978-7-03-027894-4:CNY58.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 数字集成电路测试优化/.李晓维等著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2010.06 |
| 载体形态项： | 11,344页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器（龙芯2E和2F）为例介绍了相关成果的应用。 |
| 题名主题： | 数字集成电路 测试技术 |
| 题名主题： | 数字集成电路 |
| 题名主题： | 测试技术 |
| 中图分类： | TN431.207 |
| 个人名称等同： | 李晓维 著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20110311 |