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扫描电子显微学及在纳米技术中的应用:[英文本]
| ISBN/价格： | 978-7-04-019008-3:CNY80.00 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 扫描电子显微学及在纳米技术中的应用/.[周维列，王中林主编] |
| 出版发行项： | 北京:,高等教育出版社:,2007.3 |
| 载体形态项： | 450页:;+图:;+27cm |
| 丛编项： | 当代科学前沿论丛 |
| 提要文摘： | 本书包含扫描电子显微学基础理论、近年发展起来的背散射电子衍射、复杂X射线分析、低电压图像获取、生物材料环境扫描电子显微观察、电子刻蚀和聚焦离子束微加工等内容。 |
| 并列题名： | Advanced scanning microscopy for nanotechnology techniques and applications eng |
| 题名主题： | 扫描电子显微镜 应用 纳米技术 英文 |
| 中图分类： | TB383 |
| 个人名称等同： | 周维列 主编 |
| 个人名称等同： | 王中林 主编 |
| 记录来源： | CN 重大书店 20120306 |