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互换性与测量技术基础
| ISBN/价格： | 978-7-121-13586-6:CNY28.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 互换性与测量技术基础/.万秀颖，连黎明主编 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2011.8 |
| 载体形态项： | 223页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 普通高等教育“十二五”机电类规划教材 |
| 提要文摘： | 本书系统地介绍了互换性与测量技术的基本知识，采用我国最新国家标准，介绍了相关的测量技术。主要包括绪论、圆柱公差与配合、长度测量基础、形状和位置公差及检测、表面粗糙度及检测、光滑工件尺寸检验及量规设计、滚动轴承的公差和配合、圆锥的公差配合及检测、螺纹公差及检测、键和花键的公差与配合、圆柱齿轮传动公差及检测等内容。书后各章附有习题，供读者复习和巩固知识。 |
| 题名主题： | 零部件 互换性 高等学校 教材 |
| 题名主题： | 零部件 测量技术 高等学校 教材 |
| 中图分类： | TG801 |
| 个人名称等同： | 万秀颖 主编 |
| 个人名称等同： | 连黎明 主编 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20120401 |