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半导体物理与测试分析
| ISBN/价格： | 978-7-5603-3648-0:CNY20.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 230000 |
| 题名责任者项： | 半导体物理与测试分析/.谭昌龙主编 |
| 出版发行项： | 哈尔滨:,哈尔滨工业大学出版社:,2012.8 |
| 载体形态项： | 152页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 电子与通信工程系列 |
| 一般附注： | “十二五”国家重点图书出版规划项目 |
| 提要文摘： | 本书结合半导体实际较全面地论述了半导体物理的基础知识。全书共6章，主要内容为：半导体的基本性质；半导体中杂质和缺陷能级；平衡态半导体中载流子的统计分布；半导体的导电性；非平衡半导体中载流子的运动规律；pn结。《半导体物理与测试分析》可作为高等学校电子科学与技术、微电子学、以及应用物理等专业学生的教材，也可供从事相关专业的科技人员参考。 |
| 并列题名： | = Semiconductor physics and testing analysis eng |
| 题名主题： | 半导体物理 |
| 中图分类： | O47 |
| 个人名称等同： | 谭昌龙 主编 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20130328 |