| ISBN/价格： | 978-7-121-18805-3:CNY55.00 |
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| 作品语种： | chi eng |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | MEMS可靠性/.(美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, Herbert R. Sha/.恩云飞, 贾玉斌, 黄钦文译 |
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| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2012.11 |
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| 载体形态项： | 220页:;+图:;+26cm |
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| 丛编项： | 国外电子与通信教材系列 |
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| 提要文摘： | 本书是关于MEMS可靠性的一本专著，主要内容包括：用于寿命预测的可靠性统计理论，MEMS产品设计阶段和制造阶段的失效模式，MEMS在使用中的失效模式，MEMS的失效根源及分析，MEMS的试验和鉴定标准，以及提升MEMS可靠性的工具和技术。本书的几位作者在MEMS可靠性方面拥有多年的学术研究经验和工业生产经验，内容具有较高的参考价值。 |
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| 并列题名： | Mems reliability eng |
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| 题名主题： | 微电子技术 可靠性 教材 |
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| 题名主题： | 微电子技术 |
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| 题名主题： | 可靠性 |
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| 中图分类： | TN4 |
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| 个人名称等同： | 哈策尔 著 |
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| 个人名称等同： | 席尔瓦 著 |
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| 个人名称等同： | 谢伊 著 |
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| 个人名称次要： | 恩云飞 译 |
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| 个人名称次要： | 贾玉斌 译 |
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| 个人名称次要： | 黄钦文 译 |
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| 记录来源： | CN LCTBU 20131217 |
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