| ISBN/价格: | 978-7-121-21581-0:CNY48.00 |
|---|---|
| 作品语种: | chi |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 电磁兼容及系统整机测试技术/.尚开明主编 |
| 出版发行项: | 北京:,电子工业出版社:,2013.10 |
| 载体形态项: | 249页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘: | 本书主要从两个方面介绍测试的相关技术。第一部分是硬件测试的相关技术; 第二部分是软件测试的相关技术。硬件测试技术介绍了常见的硬件测试项目, 说明测试标准及方法; 软件测试技术主要从测试计划、测试用例的设计和测试的规划上着手进行分析, 通过对BUG的分析和阐述, 正确规避风险, 并对风险进行分析, 最终形成财富库, 供测试人员共享。全书内容全面, 通俗易懂, 部分章节设置测试实例, 帮助读者理解测试技术, 还可以受到一些启发, 使得在工作中, 有针对性地进行产品设计。 |
| 题名主题: | 电磁兼容性 研究 |
| 题名主题: | 系统测试 测试技术 研究 |
| 中图分类: | TB4 |
| 中图分类: | TN03 |
| 个人名称等同: | 尚开明 主编 |
| 记录来源: | CN 三新书业 20140324 |