| ISBN/价格: | 978-7-121-21804-0:CNY58.00 |
| 作品语种: | chi eng |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 集成电路电源完整性分析与管理/.(美)奈尔(Rajendran Nair),(美)贝内特(Donald Bennett)著/.贺雅娟,罗萍等译 |
| 出版发行项: | 北京:,电子工业出版社:,2013.11 |
| 载体形态项: | 14,229页:;+图,照片:;+26cm |
| 丛编项: | 国外电子与通信教材系列 |
| 提要文摘: | 本书全面论述了电源完整性问题,特别是在纳米级工艺下对系统芯片的电源完整性分析与管理技术。书中从电源完整性的基本概念和各个物理参数的直观理解入手,通过与力学系统及其相关理论的类比,分析了电源完整性在导致集成电路性能差异方面呈现上升趋势的根本原因,并讨论了随着日益缩小的工艺线宽,电路设计工程师在电源完整性问题上所遇到的种种挑战,以及为解决这些问题所引入的先进的分析方法、管理技术以及在设计前期阶段具有突破性的实用工具。 |
| 并列题名: | Power integrity analysis and management for integrated circuits eng |
| 题名主题: | 集成电路 电源电路 教材 |
| 中图分类: | TN86 |
| 个人名称等同: | 奈尔 著 |
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| 个人名称等同: | 贝内特 著 |
| 个人名称次要: | 贺雅娟 译 |
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| 个人名称次要: | 罗萍 译 |
| 记录来源: | CN 人天书店 20131217 |