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半导体化合物光电器件检测
| ISBN/价格： | 978-7-122-18947-9:CNY49.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体化合物光电器件检测/.许并社主编 |
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2013.12 |
| 载体形态项： | 258页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 半导体化合物研究与应用丛书 |
| 一般附注： | 普通高等教育“十二五”规划教材 |
| 提要文摘： | 本书内容包括：透射电子显微镜、扫描电子显微镜、原子力显微镜、薄膜X射线衍射、光致发光和电至发光、霍尔效应等。 |
| 题名主题： | 化合物半导体 半导体光电器件 检测 高等教育 教材 |
| 题名主题： | 化合物半导体 |
| 题名主题： | 半导体光电器件 |
| 题名主题： | 检测 |
| 中图分类： | TN360.7 |
| 个人名称等同： | 许并社 主编 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20140212 |