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材料现代测试分析方法
| ISBN/价格： | 978-7-302-37444-2:CNY39.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 材料现代测试分析方法/.刘庆锁主编 |
| 出版发行项： | 北京:,清华大学出版社:,2014.09 |
| 载体形态项： | 328页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书包括X射线衍射分析、电子显微分析两大部分，主要内容包括：X射线衍射方程与强度、多晶体分析方法及X射线衍射分析仪、物相的定性与定量分析、晶体点阵参数的精确确定、透射电镜结构及其成像原理、电子衍射、图像衬度、衍射运动学分析、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。 |
| 题名主题： | 材料 测试 分析方法 |
| 中图分类： | TB302 |
| 个人名称等同： | 刘庆锁 主编 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20140920 |