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光电材料与器件测试评估技术
| ISBN/价格： | 978-7-5645-1488-4:CNY19.50 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 410000 |
| 题名责任者项： | 光电材料与器件测试评估技术/.乔建良著 |
| 出版发行项： | 郑州:,郑州大学出版社:,2014.09 |
| 载体形态项： | 192页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书根据W.E. Spicer提出的光电发射的“三步模型”，分析了NEA GaN光电阴极从光电子的激发、体内到表面的输运、到穿越表面势垒逸出、到真空的全过程，导出了光电子隧穿阴极表面势垒的透射系数。 |
| 题名主题： | 自动测试系统 应用 光电材料 |
| 题名主题： | 自动测试系统 应用 光电器件 |
| 中图分类： | TN206 |
| 个人名称等同： | 乔建良 著 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20150105 |