| ISBN/价格: | 978-7-03-044221-5:CNY32.00 |
|---|---|
| 作品语种: | chi |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 半导体物理与器件实验教程/.刘诺[等]编著 |
| 出版发行项: | 北京:,科学出版社:,2015.06 |
| 载体形态项: | 13,176页:;+图:;+24cm |
| 丛编项: | 微电子专业实验教材系列丛书 |
| 一般附注: | “电子信息材料与器件国家级实验教学示范中心”系列规划教材 教育部“卓越工程师教育培养计划”系列教材 |
| 提要文摘: | 本书分上、下两篇,上篇为半导体物理实验部分,包括晶体结构构建、晶体电子结构仿真与分析、单波长椭偏法测试分析薄膜的厚度与折射率、探针测试半导体电阻率等内容;下篇为微电子器件实验部分,包括二极管直流参数测试、双极型晶体管直流参数测试、MOS场效应晶体管直流参数测试、双极型晶体管开关时间测试和双极型晶体管特征频率测试等。 |
| 题名主题: | 半导体物理 实验 教材 |
| 题名主题: | 半导体器件 实验 教材 |
| 中图分类: | O47 |
| 个人名称等同: | 刘诺 编著 |
| 记录来源: | CN 浙江省新华书店集团公司 20150819 |