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薄膜结构X射线表征
| ISBN/价格： | 978-7-03-044195-9:CNY148.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 薄膜结构X射线表征/.麦振洪等著 |
| 版本项： | 2版 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2015.05 |
| 载体形态项： | 15,404页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 现代应用物理学丛书 |
| 提要文摘： | 本书系统介绍应用X射线技术表征薄膜和多层膜微结构的多种基本实验装置、实验数据的分析理论以及各种薄膜和多层膜微结构表征的实例等内容。 |
| 题名主题： | X射线 薄膜结构 研究 |
| 中图分类： | O434 |
| 个人名称等同： | 麦振洪 著 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20150616 |