| ISBN/价格： | 978-7-111-52184-6:CNY59.90 |
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| 作品语种： | chi eng |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测/.(美)桑迪普 K.戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编/.续海涛等译 |
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| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2016.01 |
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| 载体形态项： | 13,191页:;+图:;+24cm |
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| 丛编项： | 国际信息工程先进技术译丛 |
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| 相关题名附注： | 封面英文题名：Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits |
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| 提要文摘： | 本书分为4个部分：第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成(ATPG)；第2部分介绍全速测试，并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD；第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案；第4部分介绍了SDD的测试标准等内容。 |
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| 并列题名： | Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits eng |
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| 题名主题： | 纳米材料 CMOS电路 缺陷检测 |
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| 中图分类： | TN432 |
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| 个人名称等同： | 戈埃尔 桑迪普 K. (美) 主编 |
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| 个人名称等同： | 查克拉巴蒂 科瑞申恩度 (印) 主编 |
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| 个人名称次要： | 续海涛 译 |
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| 记录来源： | CN 人天书店 20160128 |
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