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可靠性物理
| ISBN/价格： | 978-7-121-27232-5:CNY88.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 可靠性物理/.恩云飞，谢少锋，何小琦编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2015.10 |
| 载体形态项： | 16,426页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 可靠性技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和失效物理模型。全书共13章，前两章介绍可靠性物理及其发展现状，并介绍了8类经典的失效物理模型及工程应用的意义；后11章分别论述了微电子器件、微波器件、光电子器件等。 |
| 题名主题： | 电子元件 可靠性 |
| 题名主题： | 电子器件 可靠性 |
| 中图分类： | TN6 |
| 个人名称等同： | 恩云飞 编著 |
| 个人名称等同： | 谢少锋 编著 |
| 个人名称等同： | 何小琦 编著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20151105 |