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半导体制造中的质量可靠性与创新
| ISBN/价格： | 978-7-121-28246-1:CNY98.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体制造中的质量可靠性与创新/.简维廷，(美)郭位，张启华编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2016.03 |
| 载体形态项： | 271页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书共4章。第1章简要介绍了中国集成电路产业目前发展的状况及趋势，以及集成电路制造过程中，质量与可靠性管理工作主要涵盖的内容。第2-4章，分别针对质量、可靠性和失效分析(Failure Analysis, FA)三大课题，通过大量的实用案例，以及作者在管理和工程上积累的众多创新经验和创新理念，阐述了如何在透彻了解理论知识的基础上，将这些知识应用于实际的生产线和产品的质量与可靠性管理。 |
| 题名主题： | 半导体工艺 质量管理 |
| 中图分类： | TN305 |
| 个人名称等同： | 简维廷 编著 |
| 个人名称等同： | 郭位 (美) 编著 |
| 个人名称等同： | 张启华 编著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20160406 |