ISBN/价格: | 978-7-5160-1456-1:CNY38.60 |
作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门/.郑振环,李强编著 |
出版发行项: | 北京:,中国建材工业出版社:,2016.6 |
载体形态项: | 113页:;+图:;+24cm |
相关题名附注: | 封面英文题名:Introduction to rietveld refinement with X-ray powder diffraction data and GSAS software |
提要文摘: | 本书共分为四章,侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试,并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例,包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。 |
并列题名: | Introduction to rietveld refinement with X-ray powder diffraction data and GSAS software eng |
题名主题: | 多晶 X射线衍射 研究 |
中图分类: | O721 |
个人名称等同: | 郑振环 编著 |
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个人名称等同: | 李强 编著 |
记录来源: | CN 百万庄 20160830 |