| ISBN/价格： | 978-7-5160-1456-1:CNY38.60 |
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| 作品语种： | chi |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门/.郑振环，李强编著 |
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| 出版发行项： | 北京:,中国建材工业出版社:,2016.6 |
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| 载体形态项： | 113页:;+图:;+24cm |
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| 相关题名附注： | 封面英文题名：Introduction to rietveld refinement with X-ray powder diffraction data and GSAS software |
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| 提要文摘： | 本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。 |
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| 并列题名： | Introduction to rietveld refinement with X-ray powder diffraction data and GSAS software eng |
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| 题名主题： | 多晶 X射线衍射 研究 |
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| 中图分类： | O721 |
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| 个人名称等同： | 郑振环 编著 |
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| 个人名称等同： | 李强 编著 |
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| 记录来源： | CN 百万庄 20160830 |
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