| ISBN/价格： | 978-7-121-29097-8:CNY59.00 |
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| 作品语种： | chi fre |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 现代电子系统软错误/.(法)Michael Nicolaidis主编/.韩郑生，毕津顺译 |
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| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2016.07 |
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| 载体形态项： | 16,240页:;+图:;+26cm |
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| 丛编项： | 国防电子信息技术丛书 |
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| 提要文摘： | 本书系统性阐述了软错误发生的复杂物理过程，共分10章。第1章介绍软错误研究历史和未来发展趋势。第2章介绍单粒子效应发生机制与分类。第3章介绍JEDEC标准。第4章介绍了门级建模与仿真。第5章介绍了电路级和系统级单粒子效应建模与仿真。第6章介绍了硬件故障注入。第7章介绍了如何采用加速测试与错误率预估技术，评估验证面向空间或地面环境的集成电路。第8章介绍了电路级软错误抑制技术。第9章介绍了软件级软错误抑制技术。第10章介绍了高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。 |
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| 并列题名： | Soft errors in modern electronic systems eng |
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| 题名主题： | 电子系统 研究 |
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| 中图分类： | TN103 |
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| 个人名称等同： | Nicolaidis Michael 主编 |
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| 个人名称次要： | 毕津顺 译 |
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| 记录来源： | CN 人天书店 20160808 |
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