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数字集成电路功耗与测试综合优化
| ISBN/价格： | 978-7-302-45560-8:CNY46.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 数字集成电路功耗与测试综合优化/.孙强著 |
| 出版发行项： | 北京:,清华大学出版社:,2016.12 |
| 载体形态项： | 208页:;+23cm |
| 提要文摘： | 本书运用高层次综合与设计技术，对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究，介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法，推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。 |
| 题名主题： | 数字集成电路 研究 |
| 中图分类： | TN431.2 |
| 个人名称等同： | 孙强 著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20170518 |