ISBN/价格: | 978-7-302-45560-8:CNY46.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 数字集成电路功耗与测试综合优化/.孙强著 |
出版发行项: | 北京:,清华大学出版社:,2016.12 |
载体形态项: | 208页:;+23cm |
提要文摘: | 本书运用高层次综合与设计技术,对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究,介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法,推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。 |
题名主题: | 数字集成电路 研究 |
中图分类: | TN431.2 |
个人名称等同: | 孙强 著 |
记录来源: | CN LCTBU 20170518 |