| ISBN/价格： | 978-7-111-56987-9:CNY125.00 |
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| 作品语种： | chi eng eng |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 纳米级集成电路系统电源完整性分析/.(日) 桥本正德, (美) 拉杰·耐尔等著/.戴澜, 陈铖颖, 张晓波译 |
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| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2017.9 |
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| 载体形态项： | 15, 314页:;+图:;+24cm |
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| 丛编项： | 微电子与集成电路先进技术丛书 |
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| 相关题名附注： | 英文并列题名取自封面 |
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| 提要文摘： | 本书作者以系统级电源完整性为切入点，深入探讨了电源完整性的影响、时钟产生及分布、输入/输出单元中的电源完整性设计、电源完整性建模、温度效应以及低功耗电源完整性设计等方面的问题，并以IBM POWER7+处理器芯片作为实例进行分析，最后针对新型碳纳米管互连元件在电源完整性中的应用做了简要讨论。 |
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| 并列题名： | Power integrity for nanoscale integrated systems eng |
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| 题名主题： | 集成电路 电源电路 电路设计 |
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| 中图分类： | TN710.02 |
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| 个人名称等同： | 桥本正德 著 |
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| 个人名称等同： | 耐尔 著 |
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| 个人名称次要： | 戴澜 译 |
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| 个人名称次要： | 陈铖颖 译 |
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| 个人名称次要： | 张晓波 译 |
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| 记录来源： | CN 北京新华书店首都发行所有限公司 20170921 |
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