ISBN/价格: | 978-7-04-047750-4:CNY179.00 |
---|---|
作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 化学键的弛豫/.孙长庆, 黄勇力, 王艳著 |
出版发行项: | 北京:,高等教育出版社:,2017.8 |
载体形态项: | xiii, 647页:;+图 (部分彩图):;+24cm |
丛编项: | 材料基因组工程丛书 |
提要文摘: | 本书内容:《绪论》、《化学键—能带—势垒(3B)关联理论》、《原子化合价及键结构的STM和LEED表征》、《键性和键强的TDS表征》。 |
题名主题: | 化学键 弛豫 研究 |
中图分类: | O641.1 |
中图分类: | O482.53 |
个人名称等同: | 孙长庆 著 |
个人名称等同: | 黄勇力 著 |
个人名称等同: | 王艳 著 |
记录来源: | CN shxhcmtsbmb 20170912 |