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化学键的弛豫
| ISBN/价格： | 978-7-04-047750-4:CNY179.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 化学键的弛豫/.孙长庆, 黄勇力, 王艳著 |
| 出版发行项： | 北京:,高等教育出版社:,2017.8 |
| 载体形态项： | xiii, 647页:;+图 (部分彩图):;+24cm |
| 丛编项： | 材料基因组工程丛书 |
| 提要文摘： | 本书内容：《绪论》、《化学键—能带—势垒(3B)关联理论》、《原子化合价及键结构的STM和LEED表征》、《键性和键强的TDS表征》。 |
| 题名主题： | 化学键 弛豫 研究 |
| 中图分类： | O641.1 |
| 中图分类： | O482.53 |
| 个人名称等同： | 孙长庆 著 |
| 个人名称等同： | 黄勇力 著 |
| 个人名称等同： | 王艳 著 |
| 记录来源： | CN shxhcmtsbmb 20170912 |