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实用X射线光谱分析
| ISBN/价格： | 978-7-122-27959-0:CNY128.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 实用X射线光谱分析/.高新华 ... [等] 编著 |
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2017.2 |
| 载体形态项： | 365页:;+图:;+25cm |
| 提要文摘： | 本书是现代X射线光谱分析综合性参考书。全书共分十七章，系统介绍X射线的物理基础、基本性质、激发、色散、探测与测量，波长色散与能量色散光谱仪，基体效应、光谱背景和谱线重叠，样品制备，定性与半定量分析，实验校正法、数学校正法定量分析，薄膜和镀层厚度分析、应用实例及分析误差与不确定度等内容。附录列举了X射线荧光光谱分析常用的物理常数、相关数据等，供读者参考使用。 |
| 并列题名： | Practical X ray spectrum analysis eng |
| 题名主题： | X射线荧光光谱法 荧光分析 |
| 中图分类： | O657.34 |
| 个人名称等同： | 高新华 编著 |
| 个人名称等同： | 宋武元 编著 |
| 个人名称等同： | 邓赛文 编著 |
| 个人名称等同： | 胡坚 编著 |
| 记录来源： | CN shxhcmtsbmb 20170308 |