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半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术
| ISBN/价格： | 978-7-307-19034-4:CNY29.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 420000 |
| 题名责任者项： | 半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术/.倪妍婷著 |
| 出版发行项： | 武汉:,武汉大学出版社:,2017.3 |
| 载体形态项： | 173页:;+24cm |
| 提要文摘： | 本著作从系统化、协同化的角度构建适合半导体封装测试生产身特点的协同体系结构，运用分布式人工智能技术中的多智能体对该系统进行模块化封装，对生产计划与调度中的具体问题进行建模，研究生产协同过程中的关键技术和协商机制，并进行协商优化。 |
| 题名主题： | 半导体工艺 封装工艺 测试 智能制造系统 |
| 中图分类： | TN305.94 |
| 个人名称等同： | 倪妍婷 著 |
| 记录来源： | CN shxhcmtsbmb 20170427 |