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SoC设计和测试技术:理论与实践
| ISBN/价格： | 978-7-5641-6780-6:CNY39.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 320000 |
| 题名责任者项： | SoC设计和测试技术/.刘文松[等] 编著 |
| 出版发行项： | 南京:,东南大学出版社:,2016.9 |
| 载体形态项： | 185页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书共分7章内容：首先，整体介绍VLSI设计技术的发展现状和重点问题。其次，系统讲述硬件描述语言、可编程逻辑器件、逻辑综合、自动布局布线等理论知识．第三，融合工程实践，对SOC设计和测试流程中的理念和方法展开论述。 |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 设计 |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 测试技术 |
| 中图分类： | TN4 |
| 个人名称等同： | 刘文松 编著 |
| 个人名称等同： | 朱恩 编著 |
| 个人名称等同： | 赵春光 编著 |
| 记录来源： | CN 北京新华书店首都发行所有限公司 20161113 |