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工程纳米测量基础
| ISBN/价格： | 978-7-308-17563-0:CNY98.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 330000 |
| 题名责任者项： | 工程纳米测量基础/.(英) 理查德·利奇著/.袁道成 [等] 译 |
| 版本项： | 第2版 |
| 出版发行项： | 杭州:,浙江大学出版社:,2017.12 |
| 载体形态项： | 300页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书从先进制造技术质量控制角度，介绍了测量基础知识、精密测量仪器设计原则、长度测量溯源、位移测量、表面形貌测量仪器、扫描探针和粒子束显微镜、表面形貌特征描述、坐标测量、质量和力的测量的测量国际单位及其在NPL的实现等。 |
| 并列题名： | Fundamental principles of engineering nanometrology eng |
| 题名主题： | 纳米技术 应用 精密工程测量 |
| 中图分类： | TB22 |
| 个人名称等同： | 利奇 理查德 著 |
| 个人名称次要： | 袁道成 译 |
| 记录来源： | CN 北京新华书店首都发行所有限公司 20180428 |