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《形位公差与技术测量》

形位公差与技术测量

ISBN/价格:¥1.95
作品语种:chi
出版国别:CN 230000
题名责任者项:形位公差与技术测量/.杨恩烈,余锴坚编著
出版发行项:沈阳:,辽宁人民出版社:,1981
载体形态项:284页:;+25cm
题名主题:形位公差
题名主题:技术测量
中图分类:TG801
个人名称等同:杨恩烈 编
个人名称等同:余锴坚 编
记录来源:CN 上海图书馆 20181129
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