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机读格式(MARC)
形位公差与技术测量
ISBN/价格：
￥1.95
作品语种：
chi
出版国别：
CN 230000
题名责任者项：
形位公差与技术测量/.
杨恩烈,余锴坚编著
出版发行项：
沈阳:,辽宁人民出版社:,1981
载体形态项：
284页:;+25cm
题名主题：
形位公差
题名主题：
技术测量
中图分类：
TG801
个人名称等同：
杨恩烈 编
个人名称等同：
余锴坚 编
记录来源：
CN 上海图书馆 20181129
总体评分：
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