| ISBN/价格: | 978-7-5693-0218-9:CNY128.00 |
|---|---|
| 作品语种: | chi eng |
| 出版国别: | CN 610000 |
| 题名责任者项: | 半导体材料与器件表征/.(美) 迪特尔·K·施罗德著/.Dieter K. Schroder/.徐友龙等译 |
| 出版发行项: | 西安:,西安交通大学出版社:,2017.12 |
| 载体形态项: | 714页:;+图:;+26cm |
| 丛编项: | 国外名校最新教材精选 |
| 提要文摘: | 本书涉及了半导体材料与器件的设计、制造、使用相关的各类参数表征方法,从理论到实践、从理论原理到技术设备,包罗万象,内容丰富,是该领域独一无二的著作。 |
| 并列题名: | Semiconductor material and device characteristiczation eng |
| 题名主题: | 半导体材料 研究 |
| 中图分类: | TN304 |
| 个人名称等同: | 施罗德 迪特尔·K 著 |
| 个人名称次要: | 徐友龙 译 |
| 个人名称次要: | 任巍 译 |
| 个人名称次要: | 王杰 译 |
| 个人名称次要: | 阙文修 译 |
| 记录来源: | CN 上海新华传媒连锁有限公司 20180319 |