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电子元器件检验技术,测试部分
| ISBN/价格： | 978-7-121-33485-6:CNY98.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 电子元器件检验技术/.工业和信息化部电子第五研究所组编/.王晓晗, 罗宏伟编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2019.1 |
| 载体形态项： | xi, 382页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 可靠性技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法, 同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概况总结。 |
| 题名主题： | 电子元器件 测试技术 |
| 中图分类： | TN606 |
| 个人名称等同： | 王晓晗 编著 |
| 个人名称等同： | 罗宏伟 编著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20181220 |