ISBN/价格: | 978-7-03-056492-4:CNY68.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 半导体中的氢/.崔树范著 |
出版发行项: | 北京:,科学出版社:,2018.3 |
载体形态项: | x, 132页:;+图:;+24cm |
提要文摘: | 本书共分为半导体中氢的鉴别及氢致缺陷、半导体中氢的基本性质、半导体中氢的重要效应及相关应用三部分, 包括氢气区溶硅单晶中硅氢键的红外吸光谱、氢气区溶硅单晶中的氢致缺陷等15章内容。 |
题名主题: | 半导体 氢 研究 |
中图分类: | O613.2 |
中图分类: | O472 |
个人名称等同: | 崔树范 著 |
记录来源: | CN 湖北三新 20180523 |