| ISBN/价格： | 978-7-121-35115-0:CNY79.00 |
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| 作品语种： | chi eng |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应/.(日)Eishi H. Ibe著/.毕津顺，马瑶，王天琦译 |
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| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2019.1 |
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| 载体形态项： | 14,210页:;+图:;+26cm |
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| 丛编项： | 国防电子信息技术丛书.集成电路辐射效应与加固技术 |
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| 提要文摘： | 本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括：电子、介子、中子和重离子等，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。书中对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模，以量化和减少其影响，并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。 |
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| 并列题名： | Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems eng |
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| 题名主题： | 集成电路 全球环境 辐射效应 |
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| 题名主题： | 电子系统 全球环境 辐射效应 |
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| 中图分类： | TN4 |
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| 中图分类： | TN103 |
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| 个人名称等同： | 伊部英治 著 |
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| 个人名称次要： | 毕津顺 译 |
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| 个人名称次要： | 马瑶 译 |
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| 个人名称次要： | 王天琦 译 |
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| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20190221 |
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